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    測量原理:

     

    近紅外光打在固體樣品表面,經過散射返回到近紅外電制冷檢測器,這種測量方式稱為反射測量。我們提供不同的方案和采樣附件方式實現固體的反射采樣測量。

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    分析對象:

     

    固體粉末狀樣品,固體顆粒狀樣品,透射信號極弱的糊狀樣品等

    適合機型:

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    配合樣品杯和旋轉臺,

    適合大顆粒固體樣品的測量,

    如玉米、小麥、大豆等顆粒狀樣品,

    主要用于實驗室

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    配合固體探頭的方式,

    適合較均勻的固體或者粉末狀樣品的測量,

    如藥片,面粉等,

    主要用于實驗室

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    配合非接觸反射探頭,

    適合顆粒較大的固體樣品,

    以及傳送帶等裝置上移動的固體樣品,

    實驗室和工業在線均可使用

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    配合長光纖和固體探頭,

    可用于固體樣品的在線過程檢測


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